ベアボードテスタ 1232
テストヘッド(ジグ)を用いた検査装置
（実装電子部品の計測技術を集約）
廃止
1232には、HIOKIのインサーキットテスタの計測技術が活かされています。
特長
- SIM-LINEから生成される理論抵抗値と高精度4端子抵抗測定がパターンの信頼性を保証
- 一歩先の内蔵部品検査を提供
- CSP/CPUクォータパネルサイズ：340 mm × 330 mm のワイドワークエリア
- 0.05 mmの薄物基板に対応
- テンションクランプによりフレキ基板も安定して固定できる
形名（発注コード）
| 1232-70 | 合計ピン数8192 | 廃止 |
|---|
概略仕様（1232-70）
| 最大検査ポイント数 | 8,192 (上4,096, 下4,096) | |||||
|---|---|---|---|---|---|---|
| 最大検査ステップ数 | Max. 10,000ステップ | |||||
| タクトタイム | 計測0.330秒/pce (導通210 μsec × 1024, 絶縁115 msec) (※１ピース端点数2,048 ネット数1,024) |
|||||
| 最小パッド径 | φ 20 μm | |||||
| 固定・搬送 可能基板 | 50 (W) × 50 (D) ～340 (W) × 330 (D)mm 0.05〜2.5 mm (ただし、不可能な場合もあり、薄厚はご相談ください) |
|||||
| 計測ユニット | 標準計測ユニット | |||||
| 電源 | AC200 V ±10％ (三相) 50/60 Hz, 消費電力: 3.5 kVA | |||||
| 寸法・質量 | 1437W × 1685H × 1905D mm, 2000 kg | |||||
