Uso del SM7110 para evaluar las características IV de los fotodiodos en comunicaciones ópticas

Se pronostica que el volumen de datos manejados en las comunicaciones inalámbricas crecerá debido a la creciente adopción de estándares de comunicaciones de próxima generación como 5G, así como comunicaciones entre vehículos como vehículo a todo (V2X), medicina remota y otras tecnologías. La transmisión de señales mediante cables está sujeta a problemas de pérdida y retrasos cuando se envían grandes cantidades de datos a altas velocidades. Las comunicaciones ópticas que utilizan semiconductores con características ópticas conocidas como fotodiodos (PD) y fotodiodos de avalancha (APD) están atrayendo la atención como una solución a esas preocupaciones.

Es típico usar una fuente de voltaje de CC y un microamperímetro para medir las características IV, una característica eléctrica clave en la evaluación de PD y APD. Sin embargo, usar estos dos dispositivos puede llegar a ser engorroso. No solo puede volverse tedioso rápidamente, sino que la precisión puede verse afectada por el aumento del ruido debido al complicado cableado entre los dos dispositivos.

El Super Megahmeter SM7110 consta de una fuente de alimentación de CC que puede aplicar un voltaje de CC dentro del amplio rango de 0,1 V a 1000 V y un microamperímetro con un rango mínimo de 20 pA (resolución: 0,1 fA). Como resultado, el instrumento puede realizar mediciones sincronizadas de corrientes minúsculas mientras aplica un amplio rango de voltaje de CC. Además, la aplicación de muestra de la serie SM7000 (para SM7110, SM7120 y SM7420) facilita la generación de gráficos de resultados de medición (descarga gratuita desde el sitio web de Hioki's).